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功能材料測(cè)試儀器

壓電陶瓷強(qiáng)場(chǎng)介電性能壓電材料電場(chǎng)應(yīng)變特性的測(cè)試儀激光測(cè)振儀傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀高溫介電溫譜測(cè)試儀熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀高壓極化裝置高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀醫(yī)用接地電阻

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TSC-3000熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-06-05

型號(hào)：

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TSC-3000熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng)測(cè)試儀器是被廣泛應(yīng)用于電力、絕緣、生物分子等領(lǐng)域，用于研究材料的一些關(guān)鍵因素，諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等。通過研究TSDC譜可以了解電介質(zhì)材料中偶極子和可動(dòng)離子的性質(zhì)、激活能（或陷阱深度）、以及弛豫時(shí)間（壽命）等。
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HC-TSC2000TSC熱刺激電流測(cè)試儀-熱激發(fā)電流分析儀器

更新時(shí)間：2025-09-17

型號(hào)：HC-TSC2000

瀏覽量：6904

TSC熱刺激電流測(cè)試儀-熱激發(fā)電流分析儀器因?yàn)闊岽碳る娏髋c材料的這些參數(shù)（如h與τ）密切相關(guān)，故它是一種研究介電材料、絕緣材料、半導(dǎo)體材料等的有效手段。tsc是指當(dāng)樣品受到電場(chǎng)極化后，去掉電場(chǎng)，熱激時(shí)，樣品從極化態(tài)轉(zhuǎn)變到平衡態(tài)的過程中，在外電路中得到的電流，稱為熱激退極化電流。
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Huace—TSDC低壓TSDC測(cè)試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2026-01-05

型號(hào)：Huace—TSDC

瀏覽量：217

低壓TSDC測(cè)試系統(tǒng)用于檢測(cè)材料在長(zhǎng)期運(yùn)行中積累的空間電荷，評(píng)估其絕緣劣化程度；在新型儲(chǔ)能材料開發(fā)中，可揭示離子遷移與界面極化行為；在高分子物理研究中，有助于識(shí)別α、β、γ等多重弛豫過程。
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Huace-TSDCTSDC熱刺激電流去極化測(cè)試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2026-01-05

型號(hào)：Huace-TSDC

瀏覽量：208

TSDC熱刺激電流去極化測(cè)試系統(tǒng)是用于研究電介質(zhì)材料與器件極化弛豫特性及電荷存儲(chǔ)/輸運(yùn)行為的設(shè)備。該系統(tǒng)基于熱刺激電流（Thermally Stimulated Current， TSDC，亦稱熱釋電流）原理，通過程序控溫加熱預(yù)先極化的樣品，測(cè)量其因熱激活而釋放的退極化電流，從而獲得材料內(nèi)部陷阱能級(jí)、弛豫時(shí)間、活化能、電荷密度等關(guān)鍵參數(shù)。
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HC-TSDC10KVTSDC熱刺激去極化電流系統(tǒng)

更新時(shí)間：2025-09-17

型號(hào)：HC-TSDC10KV

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HC-TSDC10KV TSDC熱刺激去極化電流系統(tǒng)（Thermally stimulated depolarization currents,簡(jiǎn)寫為TSDC或 TSC)是電介質(zhì)資料在受熱過程中建立極化態(tài)或清除極化態(tài)時(shí)所產(chǎn)生的短路電流。試樣的去極化電流隨溫度的變化關(guān)系，即為TSDC譜。經(jīng)過研究TSDC譜可以認(rèn)識(shí)電介質(zhì)資料中偶極子和可動(dòng)離子的性質(zhì)、激活能以及弛豫時(shí)間(壽命)等。
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HTSC-2000TSDC熱刺激電流測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-09-15

型號(hào)：HTSC-2000

瀏覽量：5216

TSDC熱刺激電流測(cè)試儀設(shè)備較大支持測(cè)試電壓10kV，采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷，測(cè)量引用使用低噪聲線纜，減少測(cè)試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。
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低壓 HC-TSC2000熱刺激電流測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-12-12

型號(hào)：

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低壓 HC-TSC2000熱刺激電流測(cè)試儀器從根本上解決了，測(cè)量溫度、測(cè)量導(dǎo)線、電網(wǎng)諧波干擾，以及測(cè)量延長(zhǎng)導(dǎo)線阻抗對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的影響。在測(cè)量方式上進(jìn)行了一系列的創(chuàng)新。
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熔噴布TSD熱刺激電流測(cè)試儀器/北京華測(cè)

更新時(shí)間：2024-12-12

型號(hào)：

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熔噴布TSD熱刺激電流測(cè)試儀器/北京華測(cè)由華測(cè)儀器多位工程師多年開發(fā)，其具有測(cè)試功能，設(shè)備支持測(cè)試電壓10kV，采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷，測(cè)量引用使用低噪聲線纜，減少測(cè)試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量?jī)x表的干擾。
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