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絕緣材料測試儀器

電熱老化罐真空電熱老化測試系統(tǒng) 高阻計擊穿電壓測定儀表面體積電阻率測試儀耐電弧測試儀高壓/漏電起痕試驗儀低壓/漏電起痕試驗儀導電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)與介質損耗測試儀高溫直流測試系統(tǒng)

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FDS 2000半導體封裝材料絕緣診斷測試系統(tǒng)/測試儀

更新時間：2024-09-05

型號：FDS 2000

瀏覽量：6103

半導體封裝材料絕緣診斷測試系統(tǒng)/測試儀，是基于電介質介電響應理論，集介電響應測試與絕緣狀態(tài)評估及診斷一體的綜合絕緣分析系統(tǒng)。是我們華測公司的優(yōu)質儀器，售后好價格優(yōu)請您放心的選購。
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FDS 2000半導體封裝材料絕緣診斷分析儀/測試系統(tǒng)

更新時間：2025-07-29

型號：FDS 2000

瀏覽量：2619

半導體封裝材料絕緣診斷分析儀/測試系統(tǒng)，是基于電介質介電響應理論，集介電響應測試與絕緣狀態(tài)評估及診斷一體的綜合絕緣分析系統(tǒng)。該儀器的測試頻率范圍為1mHz-1kHz，且在低頻范圍內可以選用快速測試方式，在保證測試精度的前提下，大幅減少實驗室測量時的等待時間及現(xiàn)場測量的停電時間。
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HCLD-III觸摸屏高壓漏電起痕試驗機測試儀器

更新時間：2025-09-11

型號：HCLD-III

瀏覽量：2499

觸摸屏高壓漏電起痕試驗機測試儀器產品簡介，HCDH-200漏電起痕試驗儀適用于照明設備、低壓電器、家用電器、機床電器、電機、電動工具、電子儀器、電工儀表、信息技術設備的研究、生產和質檢部門，也適用于絕緣材料、工程塑料、電氣連接件、輔件行業(yè)。，也適用于電氣能力驗證計劃與技術研討會中的有關CHEARI-PT003耐電痕化指數(shù)測試。
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Huace-300高阻計 /可測高電阻微電流

更新時間：2025-07-29

型號：Huace-300

瀏覽量：5770

Huace-300 高阻計 /可測高電阻微電流，既可測量高電阻，又可測微電流。測量精度達到3‰。
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Huace-EA25真空電熱老化測試系統(tǒng)

更新時間：2026-01-16

型號：Huace-EA25

瀏覽量：200

真空電熱老化測試系統(tǒng)是絕緣材料在高壓、高溫及多氣氛環(huán)境下進行電熱老化與擊穿性能測試的綜合性實驗設備。
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Huace-EA25電熱老化罐

更新時間：2026-01-15

型號：Huace-EA25

瀏覽量：189

電熱老化罐是為絕緣材料電熱老化及擊穿性能測試設計的綜合性實驗設備。通過模擬高壓、高溫及多氣氛環(huán)境，對絕緣材料在長期電熱復合應力下的性能變化進行加速老化測試，評估其耐久性、穩(wěn)定性和壽命特性。
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HC-Q37a介電常數(shù)與介質損耗測試儀

更新時間：2026-01-13

型號：HC-Q37a

瀏覽量：193

介電常數(shù)與介質損耗測試儀高壓設備可靠性評估以及新型絕緣材料研發(fā)中，對絕緣介質電氣性能的測量是至關重要的基礎環(huán)節(jié)。介電常數(shù)（ε）和介質損耗因數(shù)（tanδ）作為評估絕緣材料性能的兩個參數(shù)，直接反映了材料的極化能力與損耗特性，是判斷設備絕緣狀態(tài)、診斷潛在故障的關鍵依據。
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HCDJC-100kV絕緣材料高溫電氣強度測試儀

更新時間：2025-11-20

型號：HCDJC-100kV

瀏覽量：418

絕緣材料高溫電氣強度測試儀是環(huán)境模擬與電氣強度測試設備。本測試儀采用立式箱體結構，配備便捷滑輪地腳與大面積觀察窗，能夠測量各種絕緣材料在高溫環(huán)境及工頻或直流電壓下的擊穿電壓、介電強度和耐電壓時間等。
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